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SDR254采用的是 UVC探头，测试波长 230nm-280nm，中心波长 254nm。用 SMT 贴片技术，选用高精度低功耗数字芯片，探测器经过严格的光谱及角度特性校正，性能稳定，适用性强。该仪器用于光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。
光谱范围：230-280nm ，中心波长为254nm
测量范围：0.01- 1999mW/cm2
分辨率：0.01
主机尺寸：156mm*75mm*22mm
探头尺寸：32mm*36mm*14.5mm
重量:350g
线长：标配1m
取样时间：约0.5秒
探头温度：-20℃-100℃
主机温度：-20℃-60℃
电源：USB充电
关机：手动按键关机，不操作3分钟自动关机
记忆读取：可读取最大读值记录
1. 仪器1秒开机，长按2秒关机
2. 一机可配多种不同波段探头
3. 可自动识别探头型号
4. 可同时检测紫外能量值，当前强度值和最大强度值
5. 探头外壳有磁性，易于吸附在被测物体上
6. 航空接口:快速连接和分离，耐环境好、可靠性高
7. 充电接口是Type-c，支持USB接口正反面随便插
8. 充电时有闪电标志，表示正在充电中
9. 铝合金材质，带弧度的外观，手感更好
10. 数字液晶显示，带背光
11. 背光关闭的状态下，只要测试屏幕就会自动亮起
12. 不操作10s背光自动关闭，3分钟不操作仪器自动关机
13. 可保存10组数据
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