牛津X-Strata920测厚仪您想了解的工作原理

什麽是X射线，X射线是和可见光线一样也是电磁波的一种，不同的是它的波长较之可见光为短，在100Å到0.1Å之间。同时，与一般的电磁波相比，X射线能够比较容易的穿透物质，其穿透强度是随包含在物质里的原子的原子序号变小而增加。荧光X射线分析是利用X射线照射在物质上时，发生的固有的X射线（荧光X射线）的方法而设计的。荧光X射线照射在物质上，构成的物质其原子的内核电子受到X射线的轰击，能量增加，于是内层电子向外层迁移，同时外层电子向内层迁移，由于外层电子所具能量高，在向内层迁移时，便放出能量，此剩余的能量以电磁场的形式放出，既为荧光X射线。

X-Strata920系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器，可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品质量控制提供准确、快速的分析。基于Windows 7中文视窗系统的中文版Smartlink FP应用软件包，实现了对X-Strata920主机的全面自动化控制，分析中不需要任何手动调整或手动参数设定。可同时测定最多5层、15种元素。数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求；如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。统计功能提供数据平均值、误差分析、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数
据分析模式。