体温计测式温度箱，高低温（编程）试验箱

体温计测式温度箱，高低温（编程）试验箱是一款用于半导体材料做高温、低温、高低温交变的可靠性试验设备。经过测试从而知道因温度引起的物理效应和现象。半导体材料（semiconductor material）是一类具有半导体性能（导电能力介于导体与绝缘体之间，电阻率约在1mΩ·cm～1GΩ·cm范围内）、可用来制作半导体器件和集成电路的电子材料。

符合标准

体温计测式温度箱，高低温（编程）试验箱具有较宽的温度调节控制范围，可满足国家标准本产品满足GB 2423.1--2001、GB 2423.2—2001、GB2423.3-2001、GB2423.4-2001等国家标准《电工电子产品基本环境试验规程》A：低温试验方法，试验B：高温试验方法，试验Ca：恒定湿热试验方法，试验Db：交变湿热试验方法》要求。GB 10592—89、GB/T5170.2-96国家标准制造件，并可按军标试验要求GJB150.3-86，GJB150.4-86，及非标准制作各种半导体材料高低温试验设备。并等效满足GJB150.9-86等相应的国标、军标；也可按客户的要求制造非标准产品。

体温计测式温度箱，高低温（编程）试验箱规格可选其一(单位:mm)

型号LQ-GD-100 内型尺寸 400×500×500    外型尺寸950×880×1470

型号LQ-GD-150 内型尺寸 500×500×600    外型尺寸985×932×1562

型号LQ-GD-250 内型尺寸 520×630×780    外型尺寸1060×997×1740

型号LQ-GD-500 内型尺寸 700×800×900    外型尺寸1182×1250×1880

型号LQ-GD-800 内型尺寸 800×1000×1000  外形尺寸 1360×1500×1950

型号LQ-GD-1000 内型尺寸1000×1000×1000 外型尺寸1485×1520×2020

温度范围可选其一：0℃~150℃；-20℃~150℃；-40℃~150℃；-60℃~150℃；-70℃~150℃

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我司主打设备：高低温试验箱、冷热冲击试验箱、恒温恒湿试验箱、紫外老化试验箱、氙灯老化试验箱、高低温交变湿热试验箱、砂尘试验箱、淋雨试验箱、拉力试验机、盐水喷雾试验箱、按键寿命老化试验机、高温试验箱、电磁振动试验台、模拟运输振动试验台、跌落试验机等可靠性环境试验设备。

高低温（编程）试验箱