冷热冲击和高低温循环箱

适用于半导体、电子电器零组件、化学材料、金属材料、自动化零部件、通讯组件、国防工业、航天工业、BGA、PCB基板、电子芯片IC、及高分子材料之物理变化的理想测试设备。本设备可实际温度定值或程序控制，柳沁采用国际流行的制冷控制模式，可以0%~100%自动调节压缩机制冷功率，较传统的加热平衡控温模式耗能减少30%。制冷及电控关键零配件均采用国际知名一线品牌，使柳沁品牌的半导体冷热冲击试验箱与半导体冷热冲击试验机的整体质量和稳定性得到了提升和保证。本公司还可以根据顾客的尺寸要求及温度范围定制。

 特点：

1. 所有主要元器件均采用国外进口一线品牌，其中控制器采用日本原装进口OYO的彩色触控中/英文微电脑控制器。

2. 大型设备一般采用立式三箱结构设计，高低温冲击试验循环过程自动控制，停留及转换时间可调，优质SUS304不锈钢内胆，多形式记录，配有多重安全保护措施及报警装置。

3. 完善的保护报警功能：当出现短路、漏电、试验室超温；压缩机超压、电流过载、油压、断水等异常或者故障状况发生时，显示器荧幕上即刻自动显示故障原因及提供排除方法，并当发现输入电压不稳时，具有紧急停机装置。

冷热冲击和高低温循环箱技术参数:

1、实验可选温度范围：A：-40～150℃、B：-55～150℃、C：-65～150℃

2、低温蓄冷箱：-55～10℃、-65～10℃、-75～10℃、

3、高温蓄热箱： RT+10℃～160℃； RT+10℃～180℃；RT+10℃～200℃

4、温度波动度：高温室与低温室均≤±2℃;样品区温度波动≤±0.5℃（恒温时）；

5、标准配置多层加热触霜附照明玻璃视窗1套、试品架2个、测试引线孔（25、50mm）1个；

6、温度转换时间：温度转换时间从低温区到高温区或从高温区到低温区 ≤10S；

7、温度回复时间≤5min(与温度恢复条件有关，既冷却水温、暴露温差、恒温时间、样品重量有关）

8、电源要求：AC380（±10%）V/50HZ 三相五线制.