AOI视觉检测|苏州宝昀通|半导体芯片检测

AOI视觉检测|苏州宝昀通|半导体芯片检测 | 苏州宝昀通检测设备有限公司
AOI面板检测设备特点：

快速编程设计
多领域应用设计
智能同轴光源设计
内置ALDSPC软件包
高精度、高检出率
多Mark功能(含Bad Mark)
多程序同时运行
智能自动读取Barcode
远程控制与中心服务器

www.xms-sz.com 检测项目：

1、字符错误  2.、字符缺陷 3、表面划痕  4、表面污渍  
5、字符大小  6、字符位置 7、检测区域灰度差异   8、字符辉度差异 
9、电镀条高光与亚光区分。 

用户可自行设定NG种类，NG检测精度。
在检查范围可任意设定检查区域的个数与大小。
用户可自行设定NG种类，NG检测精度。
自动保存NG产品图像、合格数、不合格数、产品良品率。
采用windows中文操作界面，操作方便，界面友好
软件系统 基于windows系统,配置自行研发的E-Sight识别分选系统

AOI检测设备配置

硬件环境：工控级电脑, 双核CPU，2G内存，500G硬盘，19“LCD显示器。
图像识别系统： 500万素工业CCD，LED频闪工业光源
图像识别精度： 0.01mm
检查工件尺寸范围：400×400mm（非标可定做）